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                先进材料表征方法

                 

                X射线能谱分析(EDS) 聚焦离子束力量分析(FIB) 俄歇电子能▼谱分析(AES) X射线光电子能谱分析(XPS)
                动态二〗次离子质谱分析(D-SIMS) 飞行时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)

                 

                先进材料表征方法

                 

                简要介绍

                利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与△固体表面的相互作用,测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图◎像,得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技@术,统称为表面分析技这次术。

                表面组分分析包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布测定等。后者涉及元没有理会他素在表面的横向和纵向(深度)分布。

                 

                表面分析特点:

                表面血液是固体的终端,表面向外一侧没有近邻原子,表面≡原子有部分化学键伸向空间,形成“悬空键”。因此表面具有与体相不同的较活跃的化学性←质。

                表面指物体与真空或气体的〇界面。

                表面分析通常研究的是固体表面。表面∑ 有时指表面的单原子层,有时指上面就轻飘飘的几个原子,有时指厚度¤达微米级的表面层。

                 

                应用领域

                航空、汽车、材料、电子、化学、生物、地质学、医学、冶金、机械加工、半导体制造、陶瓷品等。

                 

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